XGS-3 電子及激光散斑實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)本實(shí)驗(yàn)包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場的測試,以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場測試、距離、速度測試、物體內(nèi)在缺陷和振動分析...
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產(chǎn)品分類XGS-3 電子及激光散斑實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)本實(shí)驗(yàn)包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場的測試,以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場測試、距離、速度測試、物體內(nèi)在缺陷和振動分析...
查看詳情SLJ-1雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)儀$n導(dǎo)軌:鋁制導(dǎo)軌,長1000mm$n光源:半導(dǎo)體激光器,鈉燈或白光光源可選$n狹縫:0-2mm可調(diào),帶二維調(diào)節(jié)$n測微目鏡:放大率15倍,測量范圍8cm$n像屏:白色像屏
查看詳情WPZ-III塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀(智能型)1、永磁鐵磁感應(yīng)強(qiáng)度B>1.0T,以實(shí)際測定為準(zhǔn)2、F-P標(biāo)準(zhǔn)具通光口徑φ40mm空氣隙石英間隙2 mm中心波長546.1nm.分辨能力λ/ dλ≥2&#...
查看詳情WGZ-IIA光強(qiáng)分布測定儀單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強(qiáng)分布測定;小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現(xiàn)象演示實(shí)驗(yàn);偏振光實(shí)驗(yàn)光強(qiáng)變化的測定;驗(yàn)證馬呂斯定律.1.導(dǎo)...
查看詳情JCD3讀數(shù)顯微鏡$n產(chǎn)品簡介$n可作長度測量,也可作觀察使用。可置水平和垂直位置,能搭成各種測試裝置。$n產(chǎn)品配置$n主要技術(shù)指標(biāo)要求:1、顯微鏡放大倍率為30倍,工作距離54.06mm,視場直徑4...
查看詳情JJ1-D大口徑分光計(jì)$n利用反射、折射、衍射和干涉原理在各種實(shí)驗(yàn)中做角度測量。$n主要技術(shù)指標(biāo)要求:1、儀器的測角精度為1′;2、平行光管、望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的焦距為170mm,通光口徑為φ30mm,視場為...
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